Chipsmall X-Ray Inspection for Electronic Components Is Opening Now

Инспекција на Х-зраци е да се користи технологија на Х-зраци за сликање за да се добие внатрешната структура на тестот, и потоа да се набудуваат внатрешните информации на објектот на тестот без да се пробие тестот.

Главно се користи за проценка на автентичност и анализа на неуспех на компонентите.Тоа е меѓународно признат метод за проценка на автентичноста на чип и анализа и откривање на дефекти.

Технологијата за откривање на Х-зраци има предности на брза брзина, не-деструктивна и ниска цена при откривање на автентичност на чип.

Откривање на неуспех на чип:

Преку Х-зраци слики, визуелно набудувајте ги внатрешните дефекти, пилинг, пукање, празнини, итн. На чипот и помагаат во судењето на неуспехот на чипот.

Пресуда за автентичност на чип:

Автентичноста може да се оцени со споредување на рамката, житото, оловото жица и другите елементи во дијаграмот на Х-зраци на тест-парчето со стандардниот чип;